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公司基本資料信息
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TFRT-300型薄膜變溫電阻測(cè)試儀
關(guān)鍵詞:薄膜電阻,磁阻,鐵磁/非鐵磁/鐵磁薄膜電阻
TFRT-300型薄膜變溫電阻測(cè)試儀是一款多用途的電阻測(cè)試儀,即可應(yīng)用于金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜(或塊材)電阻率和磁阻的測(cè)量,也可以應(yīng)用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測(cè)量,是研究薄膜材料電阻和磁阻變化特性的重要儀器,對(duì)于先進(jìn)材料應(yīng)用和開發(fā)有著重要意義。
一、特點(diǎn):
1.采用專用高精度電阻測(cè)試儀和溫度測(cè)試儀以及四端測(cè)量法減小接觸電阻對(duì)測(cè)量的影響,測(cè)量材料電阻R隨溫度T的變化;
2.采用Helmholtz線圈提供均勻的磁場(chǎng),用它可以產(chǎn)生極微弱的磁場(chǎng)直至數(shù)百Gs的磁場(chǎng)。用四端法測(cè)量樣品電阻隨溫度的變化,可減小接觸電阻對(duì)測(cè)量的影響,提高測(cè)量精度;
3.采用氮?dú)獗Wo(hù),可連續(xù)測(cè)量樣品在150K~600K范圍內(nèi)電阻隨溫度的變化,可拓展到1800℃;
4.采用流行的USB2.0接口與計(jì)算機(jī)相連,數(shù)據(jù)采集迅速準(zhǔn)確;
5.用戶界面直觀友好,方便用戶使用。
二、應(yīng)用:
1.金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜(或塊材)電阻率和磁阻的測(cè)量
2.金屬薄膜材料的電阻率,磁阻的測(cè)量(較大厚度0.2mm)
3.金屬塊體材料電阻率的測(cè)量(較大厚度3mm)
4.磁性合金薄膜的磁電阻測(cè)量
5.鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測(cè)量
6.自旋閥型巨磁電阻薄膜、隧道結(jié)型磁電阻薄膜的磁電阻測(cè)量
三、主要技術(shù)參數(shù):
型號(hào) |
TFRT-300A |
TFRT-300B |
TFRT-300C |
溫度范圍 |
150K~600K |
RT~1200 ℃ |
RT~1800 ℃ |
磁場(chǎng) |
0~1.3T(匹配) |
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電阻測(cè)量范圍 |
1μΩ~3MΩ,準(zhǔn)確度:± 0.1%FS |
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溫度測(cè)量精度 |
熱電阻0.1%±0.1℃;熱電偶0.5%±0.5℃ |
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恒流源 |
1μA~1A,準(zhǔn)確度:± 0.1%FS(FS為滿量程值) |
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供電電源 |
220 V AC |
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額定功率 |
< 2000W |
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注意事項(xiàng) |
溫度和電阻測(cè)量范圍等可按需求定制,請(qǐng)咨詢技術(shù)人員 |